熒光光譜：缺（quē）陷結構與（yǔ）壽命
晶體的主要特征是其中原子的規則排列，但實際晶體中原子的排列總是或（huò）多或少地偏離了嚴格的周（zhōu）期性。晶體（tǐ）中的原子作微振動時破（pò）壞（huài）了周期性，因而在晶（jīng）體中傳播的電子波或光電波會受（shòu）到散射，這就意味著晶體的電學性（xìng）質或光學（xué）性質發生了變（biàn）化。在熱（rè）起伏過程中，晶體的某些原（yuán）子振動劇烈，脫離了格點（diǎn）而跑到表（biǎo）麵上，在內部留下（xià）了空（kōng）格點，即空位；或者那脫（tuō）離格點的原子進入了晶格中的間隙（xì）位置，形成（chéng）間隙原子。另（lìng）一（yī）方麵，外來的雜質原子進入晶體後，可以處在間隙（xì）位置（zhì）上，成為間隙（xì）式的（de）雜質，也可以占據空位而成為取代原子。這些在一（yī）個或幾個晶格常（cháng）數的線度範圍內引起晶格周期（qī）性的破（pò）壞，統（tǒng）稱為晶體中的點缺陷。晶體中的缺陷影響著晶體（tǐ）的力學（xué）、電學、熱學、光學等等方麵的性質。熒光光譜（pǔ）(Photoluminescence Spectroscopy) 是（shì）研究半導體納米材料的電子結構和光學性能的有效方法（fǎ），特（tè）別是對於一（yī）些缺陷的判斷（duàn），並且能獲得光生載流（liú）子的（de）遷移、捕獲和複合等信（xìn）息。
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